Práce se zabývá studiem struktury a optických vlastností vrstev systémů As-Se a AS-P-Se. Pomocí rentgenové difrakce a zejména Ramanovy spektroskopie byla studována struktura objemových vzorků a tenkých vrstev systému AsxSe100-x a AsxP4-xSe3. Byly sledovány expozicí indukované změny optických parametrů a chemické stability, které souvisejí s pozorovanými změnami struktury vrstev. Byly připraveny amplitudové i fázové difrakční mřížky v tenkých vrstvách složení As33Se67 a As50Se50.
