Abstrakt:
Práce se zabývá studiem struktury, fotoindukovaných změn vlastností a možností tvorby difrakčních prvků v tenkých vrstvách systému AsxS50-x/2Se50-x/2, kde x=0, 8, 16, 32, 40, 48, 56. Struktura objemových vzorků i tenkých vrstev byla studována RTG difrakční analýzou a Ramanovou spektroskopií. V tenkých vrstvách systému As40S30Se30 byly holografickou cestou připraveny tenké fázové difrakční mřížky.