Structural origin of surface transformations in arsenic sulfide thin films upon UV-irradiation

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.author Kovalskiy, Andriy cze
dc.contributor.author Vlček, Miroslav cze
dc.contributor.author Pálka, Karel cze
dc.contributor.author Bůžek, Jan cze
dc.contributor.author York-Winegar, James cze
dc.contributor.author Oelgoetz, Justin cze
dc.contributor.author Golovchak, Roman cze
dc.contributor.author Shpotyuk, Oleh cze
dc.contributor.author Jain, Himanshu cze
dc.date.accessioned 2018-02-27T03:28:43Z
dc.date.available 2018-02-27T03:28:43Z
dc.date.issued 2017 eng
dc.identifier.issn 0169-4332 eng
dc.identifier.uri https://hdl.handle.net/10195/70191
dc.description.abstract Photostructural transformations within AsxS100-x (x = 30, 33, 35, 40) thin films upon exposure to LED light of different wavelengths, in both air and argon environments have been studied by high resolution XPS, Raman spectroscopy and LEIS methods. These complementary results show that light of energies close to the band gap does not modify chemical composition of the surface, but induces simple photopolymerization reactions. Superbandgap UV light, however, significantly increases S/As ratio on the surface due to formation of S-rich layer under both environmental conditions. It is proposed that photovaporization of both oxide and non-oxide cage-like molecules is responsible for the observed effect. eng
dc.format p. 604-612 eng
dc.language.iso eng eng
dc.publisher Elsevier Science BV eng
dc.relation.ispartof Applied Surface Science, volume 394, issue: February eng
dc.rights pouze v rámci univerzity eng
dc.subject energy ion-scattering eng
dc.subject chalcogenide glasses eng
dc.subject photostructural changes eng
dc.subject amorphous As2S3 eng
dc.subject spectroscopy eng
dc.subject dependence eng
dc.subject wavelength eng
dc.subject system eng
dc.subject model eng
dc.subject atoms eng
dc.subject iontový rozptyl cze
dc.subject chalkogenidová skla cze
dc.subject photostruturní změny cze
dc.subject amorfní As2S3 cze
dc.subject spektroskopie cze
dc.subject závislost cze
dc.subject vlnová délka cze
dc.subject systém cze
dc.subject model cze
dc.subject atomy cze
dc.title Structural origin of surface transformations in arsenic sulfide thin films upon UV-irradiation eng
dc.title.alternative Strukturní původ povrchových transformací v tenkých vrstvách sulfidu arsenitého vyvolaných UV expozicí cze
dc.type article eng
dc.description.abstract-translated Fotostrukturální tranformace ve vrstvách AsxS100-x (x = 30, 33, 35, 40) vyvolané vlivem expozice LED zářením různých vlnových délek jak na vzduchu, tak i v argonu byla studována metodou XPS, Ramanovou spektroskopií a metodou LEIS. Tyto komplementární výsledky ukazují, že světlo o energii blízké optické šířce zakázaného pásu nemění chemické složení povrchu, ale indukuje jednoduché fotopolymerizační reakce. UV záření však výrazně zvyšuje poměr As/S na povrchu materiálu díky formaci na síru bohaté vrstvy v obou použitých prostředích. Za účelem vysvětlení pozorovaných změn byl navržen mechanismus fotoindukovaného odparu jak oxidových, tak i neoxidových molekul (ve tvaru klece). cze
dc.peerreviewed yes eng
dc.publicationstatus preprint eng
dc.identifier.doi 10.1016/j.apsusc.2016.10.002 eng
dc.project.ID ED4.100/11.0251/CEMNAT - Centrum materiálů a nanotechnologií eng
dc.identifier.wos 000389152900070 eng
dc.identifier.scopus 2-s2.0-84994226172
dc.identifier.obd 39879668 eng


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet