Show simple item record
dc.contributor.author |
Hawlová, Petra
|
|
dc.date.accessioned |
2017-12-04T07:14:58Z |
|
dc.date.available |
2017-12-04T07:14:58Z |
|
dc.date.issued |
2017 |
|
dc.date.submitted |
2017-08-21 |
|
dc.identifier |
Univerzitní knihovna (studovna) |
|
dc.identifier.uri |
https://hdl.handle.net/10195/69676 |
|
dc.description.abstract |
Disertační práce se zabývá přípravou a studiem objemových materiálů a amorfních tenkých vrstev systému Ge-As-Te. Tenké vrstvy byly připraveny technikou pulzní laserové depozice. Připravené tenké vrstvy a objemové vzorky byly studovány pomocí skenovacího elektronového mikroskopu s energiově-disperzním rentgenovým analyzátorem, Ramanovou spektroskopií, rentgenovou difrakcí, mikroskopií atomárních sil, diferenční skenovací kalorimetrií, hmotnostní spektrometrií LDI-TOF MS, měření povrchového napětí metodou přisedlé kapky a měření hustoty hydrostatickou metodou. Pomocí spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byla studována fotostabilita vrstev jak v reverzibilním, tak i v ireverzibilním režimu. |
cze |
dc.format |
111 s. |
|
dc.language.iso |
cze |
|
dc.publisher |
Univerzita Pardubice |
cze |
dc.rights |
bez omezení |
cze |
dc.subject |
amorfní chalkogenidy |
cze |
dc.subject |
GeAsTe |
cze |
dc.subject |
fotoindukované jevy |
cze |
dc.subject |
fotostabilita |
cze |
dc.subject |
pulzní laserová depozice |
cze |
dc.subject |
spektrální elipsometrie |
cze |
dc.subject |
amorphous chalcogenides |
eng |
dc.subject |
GeAsTe |
eng |
dc.subject |
photoinduced phenomena |
eng |
dc.subject |
photostability |
eng |
dc.subject |
pulsed laser deposition |
eng |
dc.subject |
spectroscopic ellipsometry |
eng |
dc.title |
Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy |
cze |
dc.title.alternative |
Amorphous chalcogenide thin films |
eng |
dc.type |
disertační práce |
cze |
dc.contributor.referee |
Kolská, Zdeňka |
|
dc.contributor.referee |
Koudelka, Ladislav |
|
dc.contributor.referee |
Švorčík, Václav |
|
dc.date.accepted |
2017-11-21 |
|
dc.description.abstract-translated |
The dissertation thesis studied the bulk materials and the amorphous thin layers of the Ge-As-Te system. Thin layers were prepared by pulsed laser deposition. The prepared thin films and bulk samples were studied by scanning electron microscope with the energy dispersion X-ray analyzer, Raman spectroscopy, X-ray diffraction, atomic force microscopy, differential scanning calorimetry, LDI-TOF MS mass spectrometry, measurement of surface tension and density measurement. By the spectroscopic ellipsometry with a variable angle of incidence were studied photostability of thin films in reversible and irreversible mode. |
eng |
dc.description.department |
Fakulta chemicko-technologická |
cze |
dc.thesis.degree-discipline |
Povrchové inženýrství |
cze |
dc.thesis.degree-name |
Ph.D. |
|
dc.thesis.degree-grantor |
Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická |
cze |
dc.identifier.signature |
D37170 |
|
dc.thesis.degree-program |
Chemie a technologie materiálů |
cze |
dc.identifier.stag |
34741 |
|
dc.description.grade |
Dokončená práce s úspěšnou obhajobou |
cze |
This item appears in the following Collection(s)
Show simple item record
|
Search DSpace
Browse
-
All of DSpace
-
This Collection
My Account
|