Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.author Hawlová, Petra
dc.date.accessioned 2017-12-04T07:14:58Z
dc.date.available 2017-12-04T07:14:58Z
dc.date.issued 2017
dc.date.submitted 2017-08-21
dc.identifier Univerzitní knihovna (studovna)
dc.identifier.uri https://hdl.handle.net/10195/69676
dc.description.abstract Disertační práce se zabývá přípravou a studiem objemových materiálů a amorfních tenkých vrstev systému Ge-As-Te. Tenké vrstvy byly připraveny technikou pulzní laserové depozice. Připravené tenké vrstvy a objemové vzorky byly studovány pomocí skenovacího elektronového mikroskopu s energiově-disperzním rentgenovým analyzátorem, Ramanovou spektroskopií, rentgenovou difrakcí, mikroskopií atomárních sil, diferenční skenovací kalorimetrií, hmotnostní spektrometrií LDI-TOF MS, měření povrchového napětí metodou přisedlé kapky a měření hustoty hydrostatickou metodou. Pomocí spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byla studována fotostabilita vrstev jak v reverzibilním, tak i v ireverzibilním režimu. cze
dc.format 111 s.
dc.language.iso cze
dc.publisher Univerzita Pardubice cze
dc.rights bez omezení cze
dc.subject amorfní chalkogenidy cze
dc.subject GeAsTe cze
dc.subject fotoindukované jevy cze
dc.subject fotostabilita cze
dc.subject pulzní laserová depozice cze
dc.subject spektrální elipsometrie cze
dc.subject amorphous chalcogenides eng
dc.subject GeAsTe eng
dc.subject photoinduced phenomena eng
dc.subject photostability eng
dc.subject pulsed laser deposition eng
dc.subject spectroscopic ellipsometry eng
dc.title Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy cze
dc.title.alternative Amorphous chalcogenide thin films eng
dc.type disertační práce cze
dc.contributor.referee Kolská, Zdeňka
dc.contributor.referee Koudelka, Ladislav
dc.contributor.referee Švorčík, Václav
dc.date.accepted 2017-11-21
dc.description.abstract-translated The dissertation thesis studied the bulk materials and the amorphous thin layers of the Ge-As-Te system. Thin layers were prepared by pulsed laser deposition. The prepared thin films and bulk samples were studied by scanning electron microscope with the energy dispersion X-ray analyzer, Raman spectroscopy, X-ray diffraction, atomic force microscopy, differential scanning calorimetry, LDI-TOF MS mass spectrometry, measurement of surface tension and density measurement. By the spectroscopic ellipsometry with a variable angle of incidence were studied photostability of thin films in reversible and irreversible mode. eng
dc.description.department Fakulta chemicko-technologická cze
dc.thesis.degree-discipline Povrchové inženýrství cze
dc.thesis.degree-name Ph.D.
dc.thesis.degree-grantor Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická cze
dc.identifier.signature D37170
dc.thesis.degree-program Chemie a technologie materiálů cze
dc.identifier.stag 34741


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet