dc.contributor.author |
Tyszczuk-Rotko, Katarzyna
|
cze |
dc.contributor.author |
Metelka, Radovan
|
cze |
dc.contributor.author |
Vytřas, Karel
|
cze |
dc.contributor.author |
Barczak, Mariusz
|
cze |
dc.contributor.author |
Sadok, Ilona
|
cze |
dc.contributor.author |
Miroslaw, Barbara
|
cze |
dc.date.accessioned |
2017-09-19T11:59:10Z |
|
dc.date.available |
2017-09-19T11:59:10Z |
|
dc.date.issued |
2016 |
eng |
dc.identifier.issn |
0026-9247 |
eng |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10195/69560 |
|
dc.description.abstract |
For the first time an in situ-plated bismuth film electrode prepared with the use of a reversibly deposited mediator (Zn) was applied to anodic stripping voltammetry of the metal ions. This simple and easy way of the electrode surface modification by metal films was suggested to increase the voltammetric signal of Sn(IV) and, consequently, to improve the sensitivity and tin detection limit. The structural and chemical information about the bismuth films plated with and without the use of the mediator were derived from AFM and XPS data analysis. |
eng |
dc.format |
p. 61–68 |
eng |
dc.language.iso |
eng |
eng |
dc.relation.ispartof |
Monatshefte fur Chemie, volume 147, issue: 1 |
eng |
dc.rights |
Pouze v rámci univezity |
eng |
dc.subject |
Electrochemistry |
eng |
dc.subject |
Voltammetry |
eng |
dc.subject |
 Sensors |
eng |
dc.subject |
Surface |
eng |
dc.subject |
Tin determination |
eng |
dc.subject |
Elektrochemie |
cze |
dc.subject |
voltametrie |
cze |
dc.subject |
senzory |
cze |
dc.subject |
povrch |
cze |
dc.subject |
stanovení cínu |
cze |
dc.title |
A Simple and Easy Way to Enhance Sensitivity of Sn(IV) on Bismuth Film Electrodes with the Use of a Mediator |
eng |
dc.title.alternative |
Jednoduchý a nenáročný způsob zvýšení citlivosti stanovení Sn(IV) na bismutových filmových elektrodách s použitím mediátoru |
cze |
dc.type |
article |
eng |
dc.description.abstract-translated |
Bismutová filmová elektroda připravená in situ s využitím reverzibilně deponovaného mediátoru (Zn) byla použita pro anodickou rozpouštěcí voltametrii iontů kovů. Tento jednoduchý způsob modifikace elektrodového povrchu filmy kovů byl navržen ke zvýšení voltametrického signálu Sn(IV) a tím zlepšení citlivosti a detekčního limitu stanovení. Charakterizace bismutových filmů připravených s a bez použití mediátoru byla provedena pomocí AFM a XPS. |
cze |
dc.peerreviewed |
yes |
eng |
dc.publicationstatus |
published |
eng |
dc.identifier.doi |
10.1007/s00706-015-1601-x |
eng |
dc.relation.publisherversion |
http://link.springer.com/article/10.1007/s00706-015-1601-x |
eng |
dc.identifier.wos |
000367521400009 |
eng |
dc.identifier.scopus |
2-s2.0-84952863898 |
|
dc.identifier.obd |
39877672 |
eng |