Abstrakt:
Předkládaná práce se zabývá vlivem thallia jako dopantu na termoelektrické vlastnosti polykrystalického SnSe. Byla připravena řada vzorků TlxSn1-xSe, kde x = 0; 0,0025; 0,005; 0,0075; 0,01; 0,015; 0,02 a 0,04. Tyto vzorky byly charakterizovány rentgenovou difrakční analýzou, elektronovou mikroskopií a byla změřena jejich elektrická vodivost, tepelná vodivost, Hallův koeficient a Seebeckův koeficient v rozmezí teplot 300-725 K.
