| dc.contributor.advisor |
Němec, Petr |
cze |
| dc.contributor.author |
Hawlová, Petra |
|
| dc.date.accessioned |
2012-07-15T22:41:34Z |
|
| dc.date.available |
2012-07-15T22:41:34Z |
|
| dc.date.issued |
2012 |
|
| dc.identifier |
Univerzitní knihovna (studovna) |
cze |
| dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10195/45931 |
|
| dc.description.abstract |
Diplomová práce se zabývá přípravou a studiem objemových skel a tenkých vrstev systému Ge-As-Se. Tenké vrstvy byly připraveny technikou pulzní laserové depozice. Připravené tenké vrstvy byly studovány pomocí skenovacího elektronového mikroskopu s energiově-disperzním rentgenovým analyzátorem, Ramanovou spektroskopií, rentgenovou difrakcí a mikroskopií atomárních sil. Pomocí spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byly studovány reverzibilní a ireverzibilní fotoindukované jevy. |
cze |
| dc.format |
66 s. |
cze |
| dc.format.extent |
1368767 bytes |
cze |
| dc.format.mimetype |
application/pdf |
cze |
| dc.language.iso |
cze |
|
| dc.publisher |
Univerzita Pardubice |
cze |
| dc.rights |
Bez omezení |
cze |
| dc.subject |
amorfní chalkogenidy |
cze |
| dc.subject |
Ge-As-Se |
cze |
| dc.subject |
fotoindukované jevy |
cze |
| dc.subject |
fotostabilita |
cze |
| dc.subject |
pulzní laserová depozice |
cze |
| dc.subject |
spektrální elipsometrie |
cze |
| dc.subject |
amorphous chalcogenides |
eng |
| dc.subject |
Ge-As-Se |
eng |
| dc.subject |
photoinduced phenomena |
eng |
| dc.subject |
photostability |
eng |
| dc.subject |
pulsed laser deposition |
eng |
| dc.subject |
spectroscopic ellipsometry |
cze |
| dc.title |
Fotostabilita amorfních chalkogenidů systému Ge-As-Se |
cze |
| dc.title.alternative |
Photostability of amorphous chalcogenides from Ge-As-Se system |
eng |
| dc.type |
diplomová práce |
cze |
| dc.contributor.referee |
Pavlišta, Martin |
cze |
| dc.date.accepted |
2012 |
cze |
| dc.description.abstract-translated |
This thesis focused on the preparation and the study of selected bulk glass and thin films of Ge-As-Se system. Thin films were prepared by pulsed laser deposition. The prepared thin films were studied by scanning electron microscope with energy dispersive x-ray analyzer, Raman spectroscopy, X-ray diffraction and atomic force microscopy. In prepared thin films, reversible and irreversible photoinduced phenomena were studied using variable angle spectroscopic ellipsometry. |
eng |
| dc.description.department |
Katedra obecné a anorganické chemie |
cze |
| dc.thesis.degree-discipline |
Materiálové inženýrství |
cze |
| dc.thesis.degree-name |
Ing. |
cze |
| dc.thesis.degree-grantor |
Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická |
cze |
| dc.identifier.signature |
D27550 |
cze |
| dc.thesis.degree-program |
Chemie a technologie materiálů |
cze |
| dc.description.defence |
Diplomantka seznámila komisi se svojí diplomovou prací.
Dále reagovala na připomínky oponenta.
Zodpověděla otázky členů komise:
Ukažte, které pásy v Ramanových spektrech přísluší jednotkám As4Se4 As4Se3.
Definujte výpočet středního koordinačního čísla a za jakým účelem bylo počítáno?
Nakreslete strukturu jednotky As4Se3.
V čem se liší zápis GeSe4 a GeSe4/2.
Jak byla zjištěna tloušťka studovaných materiálů?
Diskutujte metody přípravy tenkých vrstev.
Byla studována homogenita tloušťky připravených tenkých vrstev.
Co bylo zjištěno metodou AFM? |
cze |
| dc.identifier.stag |
18382 |
cze |
| dc.description.grade |
Dokončená práce s úspěšnou obhajobou |
cze |
