Abstract:
Z prvků polovodičové čistoty byla připravena řada polykrystalických vzorků GaGeTe1-xSbx, kde x= 0, 0.01, 0.03,0.05,0.07. Tyto vzorky byly charakterizovány RTG difrakcí, měřením elektrické vodivosti, Hallovy konstanty, Seebeckova koeficientu, tepelné vodivosti a měrné tepelné kapacity.