Digitální knihovna UPCE
→
Prohlížení dle autora

Prohlížení dle autora "Niang, Kham"

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Název: Spectroscopic ellipsometry characterization of ZnO:Sn thin films with various Sn composition deposited by remote-plasma reactive sputtering Typ: article Autor: Janíček, Petr; Niang, Kham; Mistrík, Jan; Pálka, Karel; Flewitt, Andrew Datum: 2017

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Vyhledávání

Rozšířené hledání

Procházet

Vše v Digitální knihovně

Můj účet

Přihlásit se